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Detalles del producto
Experimente el futuro del rendimiento de almacenamiento para usuarios de estaciones de trabajo y clientes de sobremesa con el Intel® SSD serie 750. El Intel SSD serie 750 ofrece un rendimiento sin compromisos gracias a la tecnología NVM Express con cuatro carriles de PCIe 3.0.
Con una tarjeta adicional y formatos de 2,5 pulgadas, el Intel SSD serie 750 facilita la migración de SATA a PCIe 3.0 sin limitaciones energéticas ni térmicas que afecten al rendimiento. Los nuevos SSD pueden ofrecer el máximo rendimiento en una gran variedad de formatos y configuraciones del sistema.
Preguntas y respuestas sobre este producto
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Especificaciones
Peso y dimensiones | |
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Peso | 195 g |
Detalles técnicos | |
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Segmento de mercado | MBL |
Consumo de energía del disco SSD (activo) | 22 |
Golpes en SSD | 50 |
Fecha de lanzamiento | 2015-04-02T00:00:00 |
Estado | 4 |
Vibración no operativa | 3,13 G |
Intervalo de temperatura operativa | 0 - 55 °C |
Vibración operativa | 2,17 G |
Consumo de energía del disco SSD (inactivo) | 4 |
Golpe (fuera de operación) | 50 G |
Nombre del producto | Intel SSD 750 Series (1.2TB, 1/2 Height PCIe 3.0, 20nm, MLC) |
URL con la descripción del producto | http://www.intel.com/content/dam/www/public/us/en/documents/product-briefs/ssd-750-brief.pdf |
Factor de forma | HHHL (CEM2.0) |
Golpes en funcionamiento | 50 G |
Versión de Intel® Smart Response Technology | 0.00 |
Fecha de nacimiento | Q2'15 |
Valoración de resistencia de disco SSD | 70GB per day |
Capacidad | 1200 GB |
Otras características | |
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Consumo de energía (activo) | 22 W |
Interno |
Control de energía | |
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Consumo de energía (espera) | 4 W |
Desempeño | |
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Tecnología de alta resistencia de Intel® (HET) | |
Tecnología Intel® Smart Response | |
Tiempo medio entre fallos | 1200000 h |
Compatible con NVM Express (NVMe) | |
Latencia (de escritura) | 20 µs |
Monitoreo de temperatura de SSD | |
SSD ARK ID | 86739 |
Protección de datos integral | |
Tipo de memoria | MLC |
Tecnología mejorada de protección frente a pérdidas de datos por fallos eléctricos | |
Latencia (de lectura) | 20 µs |
Carriles datos de interfaz PCI Express | x4 |
Litografía | 20 nm |
Tecnología Intel® Rapid Start |